貼片電容壽命測(cè)試方法與檢測(cè)指標(biāo)

貼片電容的壽命有兩層含義，其一是老化壽命，其二是使用壽命。
貼片電容的老化壽命一般沒(méi)有多大實(shí)際意義。一顆電容即便生產(chǎn)出來(lái)很多年，也一樣可以正常使用。這個(gè)和晶振不太一樣。當(dāng)然如果倉(cāng)儲(chǔ)環(huán)境達(dá)不足，出廠時(shí)間久的貼片電容端電極有可能老化，導(dǎo)致焊接性能下降。因此原則應(yīng)該購(gòu)買出廠一年以內(nèi)的產(chǎn)品。

風(fēng)華高科對(duì)貼片電容的使用壽命一般采用如下方式進(jìn)行測(cè)試：

1、測(cè)試方法

1.1 、低壓貼片電容（≤100V）

電壓：1.5 倍額定工作電壓

時(shí)間：1000 小時(shí)

溫度：125℃（NPO、X7R） 85℃（X5R、 Y5V）

充電電流：不應(yīng)超過(guò)50mA

放置條件：室溫

放置時(shí)間：24 小時(shí)（Ⅰ類），或48 小時(shí)（Ⅱ類），

1.2、中高壓貼片電容：

100V≤額定電壓＜500V：2 倍工作電壓

500V≤額定電壓≤1000V：1.5 倍工作電壓

額定電壓＞1000V：1.2 倍工作電壓

時(shí)間：1000 小時(shí)

充電電流：不應(yīng)超過(guò)50mA

溫度：125℃（NPO X7R）；85℃（X5R、Y5V）

放置條件：室溫

放置時(shí)間：24 小時(shí)（Ⅰ類），或48小時(shí)（Ⅱ類）

2、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
ΔC/C
Ⅰ類：≤±2%或±1pF 取兩者之中較大者

Ⅱ類：B,X: ≤±20% ；E,F: ≤±30%

ΔC/C：

Ⅰ類：≤±2%或±1pF取兩者之中較大者

Ⅱ類：B,X: ≤±20%；E,F: ≤±30%

DF：
≤2 倍初始標(biāo)準(zhǔn)

IR

Ⅰ類：Ri≥4000MΩ或 Ri• CR≥40S 取兩者之中較小者.

Ⅱ類：Ri≥2000MΩ或 Ri• CR≥50S 取兩者之中較小者.

外觀

無(wú)損傷

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